DR平板探测器势特点

作者：admin 发布时间：2020-11-12 11:22点击：

今天，小编跟大家介绍下DR平板探测器的知识，平板检测器是一种复杂且昂贵的设备，其对图像质量起决定性作用。熟悉检测器的性能指标有助于改善图像质量并减少X射线辐射剂量。
数字射线照相术（DR）是1990年为X射线摄影开发的一项新技术。凭借其更快的成像速度，更简便的操作，更高的图像分辨率和其他显着优势，它已成为数字X射线摄影的领先方向，并得到了全球临床和成像专家的认可。
DR的核心技术是平板探测器。平板探测器是一种复杂而昂贵的设备，对成像质量起着决定性的作用。熟悉检测器的性能指标将有助于我们改善图像质量并减少X射线辐射剂量
平板检测器由外壳（保护层），荧光层，电路板和散热器组成。荧光层分为CSI和GDS（GDOS0）。 CSI荧光粉层显示的图像更清晰，而GDS荧光粉屏幕更灵敏。
根据半导体材料，可以分为非晶硒平板探测器和非晶硅平板探测器。非晶硒平板探测器具有很高的灵敏度，通常用于动态面板。
根据图像软件的分类，可以有医学软件，动物软件和工业软件。
使用平板探测器时，应注意，最适合平板工作环境的温度为5°至35°。如果在热带地区使用，则应进行冷却控制。同时，应注意蚀刻效果。平板探测器的理论寿命为3年。平板检测器的长期使用会产生由于蚀刻效应而无法消除的伪影，从而影响图像质量。这是当今平板探测器的补充。
如有DR平板探测器方面的需要，请致电13356723728 （微信上的相同号码）

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