平板探测器特性参数有哪些呢?

　　平板探测器是DR和CT的核心部件，其性能对图像质量影响很大。随着市面上探测器的品牌和型号越来越丰富，价格也是有高有低，让人挑起来眼花缭乱。下面整理了一些探测器的主要特性及简单分析，希望对大家在数字成像中探测器的选型有所帮助。实时成像中动态图像的不清晰度与帧率和像素尺寸有关。

　　·像素尺寸：是指成像有效区域长度与像素数之比，或表示为相邻像素的中心距离。

　　·闪烁体类型：目前工业上常见的非晶硅闪烁体涂层材料有两种碘化铯、硫氧化钆。

　　·动态范围：是指探测器可以精确测量射线强度的范围。 动态范围计算公式：D=Vs/Vn 动态范围用分贝表示公式：D=20lg(Vs/Vn) D探测器动态范围 Vs探测器输出最大信号 Vn电子噪声 动态范围越大，说明在被检工件厚薄差异较大的情况下仍然能够得到良好的对比度灵敏度。

　　·灵敏度：探测器输出可检测信号时所需要的最少输入信号强度。

　　·调制传递函数MTF：为探测器对比度空间频率转移函数，通常用来表示探测器对于图像细节的分辨能力。

　　·量子探测效率DQE：定义为输出信噪比的平方与输入信噪比的平方之比通常用百分数来表示。

　　其他特性：噪声：非输入信号造成的输出信号。

　　信噪比：探测器获得图像信号平均值与图像信号标准偏差之比，用SNR表示。 信噪比越高，图像质量越好。

　　归一化信噪比：比较不同探测器的信噪比，必须在同样的探测器单元尺寸下进行。

　　响应时间：是探测器从接收射线光子到获得稳定的探测器信号所需要的时间，它是影响独立采样的速率及数据质量的关键。

　　记忆效应：表示图像残留的参数，通常用两个参量来表示残留因子的变化。 需要注意的是此处的数值是在正常曝光条件下，如出现过曝光情形则大于此数值。
      
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