有哪些不同类型的平板探测器?

　　两种类型的平板探测器将 X 射线转换为使用两种不同技术的图像，包括间接平板探测器和直接平板探测器。不同的平板探测器会产生不同的图像质量，每种探测器在实践中的特定用途中效果都更好。让我们在下面讨论每个探测器。

　　间接平板探测器

　　间接平板探测器的工作原理是将 X 射线间接转换为光，然后转换为电荷，最后转换为数字信号。两个独立的层完成此转换。最外层是闪烁体;闪烁体是由碘化铯或氧化硫化钆制成的荧光屏。闪烁体后面是非晶硅光电二极管探测器阵列 - 这种硅包含数百万个像素。每个像素还有一个光电二极管，它产生的电信号与像素前面的闪烁体层检测到的光量成比例。光电二极管放大信号并对其进行编码，以数字方式表示 X 射线图像。间接面板最适合一般放射线照相术、血管造影术和荧光透视。

　　直接平板探测器

　　直接平板探测器利用光电导体将 X 射线直接转换为电荷。光电导体捕获 X 射线光子并将其直接转换为电荷。直接平板探测器的最外层是高压偏置电极。这一层后面是光电导体。光电导体由非晶硒或碲化镉制成。

　　没有光学转换步骤，如间接平板，从而减少了模糊。小像素尺寸和直接转换可实现高空间分辨率。当需要高分辨率时，最好使用直接平板探测器，例如乳房X光检查。高分辨率是识别微钙化所必需的。
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